Pudasaini U., Eremeev G.V., Reece C.E., Sayeed M.N., Elsayed-Ali H.E.
Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, thin films, magnetron sputtering, substrate metallic, microstructure, fabrication, X-ray diffraction, resistive transition, resistivity, temperature dependence, critical temperature
Thin Solid Films, 2022, v.763, N , p.139569
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, films, magnetron sputtering, targets, substrate sapphire, X-ray diffraction, Raman spectroscopy, microstructure, composition, annealing process, roughness, surface, resistance, temperature dependence, fabrication
Applied Surface Science, 2021, v.541, N , p.148528
Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, thin films, magnetron sputtering, multilayered structures, substrate sapphire, annealing process, fabrication, thickness dependence, composition, X-ray diffraction, microstructure, resistive transition, critical temperature
IOP Conference Series: Materials Science Engineering, 2020, v.756, N 1, p.12014
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.